深圳市世紀遠景電子設備有限公司，歡迎您！
在微觀世界的研究中，精準的觀測工具是不可或缺的。日立S-3400N型掃描電子顯微鏡（SEM）以其卓越的性能和先進的技術，為科研和工業領域提供了一個強大的分析平臺。深圳市世紀遠景電子設備有限公司現提供該設備的租賃服務，讓更多用戶能夠利用這一高科技工具進行材料的微觀形貌、組織和成分的有效分析。
1、日立S-3400N型SEM的核心優勢
日立S-3400N型SEM采用了TMP分子泵真空系統，這一系統不僅節省了占地面積，還降低了電源功耗，使得設備更加高效和環保。該設備的新研制電子光學系統和自動化功能顯示系統，提供了全屏無閃爍的高像素實時圖像顯示，大大提升了用戶的觀測體驗和操作便利性。
2、技術創新與自動化
S-3400N型SEM的自動功能極為強大，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等，這些自動化功能不僅提高了操作的精確度，也使得用戶能夠更專注于實驗本身而非設備操作。
3、高分辨率成像
該設備在3kV低加速電壓時保證有10nm的分辨率，而在30kV高真空模式下，其SE分辨率可達到3.0nm，BSE分辨率在30kV低真空模式下為4.0nm。這樣的高分辨率成像能力，使得S-3400N型SEM在觀測微觀結構時能夠提供極其清晰和細致的圖像。
4、樣品觀測與分析
S-3400N型SEM的樣品臺設計靈活，II型樣品臺具有五軸馬達驅動，傾斜角度可達-20度~+90度，樣品最高可達80mm。這一設計使得對大尺寸樣品的觀測更為簡單和便利。同時，分析樣品倉可以同時安裝EDX、WDX及EBSD，為用戶提供了更多的分析手段。
5、技術指標概覽
SE分辨率：3.0nm (30kV)，高真空模式 / 10nm (3kV), 高真空模式
BSE分辨率：4.0nm (30kV)，低真空模式
加速電壓：0.3 ~ 30 kV
低真空范圍：6 ~ 270 Pa
最大樣品尺寸：直徑200mm
最大樣品高度：35mm (WD=10mm) for I型，80mm (WD=10mm) for II型
驅動類型：手動 for I型 / 五軸馬達驅動 for II型
檢測器：二次電子檢測器、高靈敏度半導體背散射電子檢測器
6、租賃服務流程
需求評估：與我們的技術專家溝通，明確您的研究需求和預算。
設備配置：根據您的需求，選擇適合的SEM配置，包括樣品臺類型和附加的分析工具。
租賃協議：簽訂租賃協議，明確租賃期限、費用和雙方的責任。
設備交付與安裝：我們將負責設備的運輸、安裝和調試，確保設備到達后即可投入使用。
用戶培訓：提供全面的用戶培訓，確保您的團隊能夠熟練操作設備。
技術支持：在租賃期間提供持續的技術支持，確保設備的穩定運行。
設備維護：定期對設備進行維護和校準，以保持其最佳性能。
7、結語
日立S-3400N型掃描電子顯微鏡的租賃服務，為需要進行微觀分析的研究機構和企業提供了一個高效、經濟的解決方案。通過我們的租賃服務，用戶可以享受到最先進的SEM技術，同時獲得專業的技術支持和維護服務。
掃描關注我們
粵公網安備 44190002006904號