第六代 Phenom Pro 臺式掃描電鏡是一款功能強大,輕松易用的多功能設備。長壽命、高亮度 CeB6 燈絲擴展了研究設備的功能,結合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,Phenom Pro 可以適用于廣泛的研究領域。
01
設備租賃簡要說明
遠景設備租賃
飛納臺式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX
飛納臺式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX 設備簡介
第六代 Phenom ProX 臺式掃描電鏡引入了全新一代操作系統,通過改進光路設計,將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升級,易于操作,元素分析更快速。在滿足材料表面形貌和元素分析的基礎上,還可以通過軟件控制硬件,實現材料分析自動化。此外,用戶可以通過特定的軟件從 SEM 圖像中快速提取樣品特征信息,測量數據、統計圖表可以根據選擇的格式輸出在報告里。
Phenom Pro臺式掃描電鏡快速高效操作簡單,可減輕落地式掃描電鏡設備對普通樣品進行常規分析的負擔。無論是操作過電鏡的人員還是未操作過電鏡的人員,無需過多培訓即可快速上手,得到高質量的成像結果。
02
設備特點
Phenom Pro
高端臺式電鏡,提供高質量掃描電鏡圖像
定制的探測器、高亮度的燈絲和先進的彩色導航相機使第六代Phenom Pro 臺式掃描電鏡填補了光學顯微鏡和落地式掃描電鏡分析之間的空白,使設備具有突破性,提高了設備的生產率。
BSD & SED 混合像
標配 BSD 圖像,選配 SED 圖像
Phenom Pro 后期可升級為同時具備顯微圖像和元素成分分析的電鏡能譜一體機 Phenom ProX。Phenom Pro 可選配所有的樣品杯選件和所有拓展功能軟件選件。并且第六代Phenom Pro 可以提供實時的背散射和二次電子混合圖像。
此外,第六代 Phenom Pro 為 Pro Suite 軟件套裝和豐富的樣品杯選件提供了良好的平臺。與之前的產品相比,第六代 Phenom Pro 臺式掃描電鏡將分辨率提高 20%,同時帶來了更好的用戶體驗。在檢測時可以進行更廣泛的應用,包括對電子束敏感的樣品。
Phenom 24" HD 全屏幕圖像設計
最高放大倍數可達 350,000x
第六代Phenom Pro的加速電壓為 5-20kV 連續可調.同時,Phenom Pro可以設置更低的束流。為了支持多種應用,可選配不同的樣品杯:降低荷電效應樣品杯、金相樣品杯、自動傾斜旋轉樣品杯、微電子器件插件和微型工具樣品杯。升級的加速電壓和束流設置使得整個系統更加靈活。為更多樣品提供了更好的成像條件,可使用戶獲得更滿意的結果。
永不丟失導航
彩色光學導航,快速定位至目標位置
專業版 Phenom Pro 的導航相機提供的信息能夠幫助用戶把光學圖像和電鏡圖像對應起來。用戶只需 10 分鐘的基礎培訓即可親手拍出圖片來。豐富的樣品杯選件使得 Phenom Pro 可以適用于多種多樣不同類型的樣品。專利的樣品杯技術確保裝載樣品快速、簡單。
光學照相機、自動馬達臺結合人性化的操作界面可以幫助用戶快速定位到興趣位置。點擊導航圖像中的某個位置,全自動馬達臺即可將該位置移動到視野中央。只需點擊對應按鈕,即可實現從光學模式到電鏡模式的快速切換。裝載樣品后,30秒即可獲得電鏡模式下的圖像。存儲圖像方便,可以存儲于 U盤或者網絡,用于離線分析和圖片發送。
03
設備檢測應用
飛納電鏡 ProSuite
飛納電鏡 ProSuite 是一個可選的軟件包,它可以更加豐富飛納電鏡的功能。基于飛納電鏡獲得的圖像,ProSuite 可以盡可能地從其中提取大量信息,為特定的應用需求提供多方面的解決方案。ProSuite 標配軟件有自動全景拼圖和遠程協助。選配軟件有纖維統計分析測量系統,顆粒統計分析測量系統孔徑統計分析測量系統以及 3D 粗糙度重建系統。實際上,樣品的大部分屬性、特征都可以通過飛納電鏡結合 ProSuite 軟件包揭示出來。
二次電子探測器
Phenom Pro 可以選配二次電子探測器(SED),SED 從樣品的表層收集低能量電子。因此,它是分析樣品表面信息的最佳選擇。SED 可以很好地應用于表面和形態分析。在研究微觀結構、納米結構或顆粒時,這就很有意義。并且,第六代Phenom Pro 可以提供實時的背散射和二次電子混合圖像,將成分和形態數據連接起來。