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臺(tái)式掃描電鏡租賃 - 提供專業(yè)的臺(tái)式掃描電鏡租賃服務(wù)

 第六代 Phenom Pro 臺(tái)式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大，輕松易用的多功能設(shè)備。長(zhǎng)壽命、高亮度 CeB6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能，結(jié)合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動(dòng)軟件，Phenom Pro 可以適用于廣泛的研究領(lǐng)域。

01

設(shè)備租賃簡(jiǎn)要說(shuō)明

遠(yuǎn)景設(shè)備租賃

飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX  

飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX 設(shè)備簡(jiǎn)介

      第六代 Phenom ProX 臺(tái)式掃描電鏡引入了全新一代操作系統(tǒng)，通過(guò)改進(jìn)光路設(shè)計(jì)，將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升級(jí)，易于操作，元素分析更快速。在滿足材料表面形貌和元素分析的基礎(chǔ)上，還可以通過(guò)軟件控制硬件，實(shí)現(xiàn)材料分析自動(dòng)化。此外，用戶可以通過(guò)特定的軟件從 SEM 圖像中快速提取樣品特征信息，測(cè)量數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)圖表可以根據(jù)選擇的格式輸出在報(bào)告里。

     Phenom Pro臺(tái)式掃描電鏡快速高效操作簡(jiǎn)單，可減輕落地式掃描電鏡設(shè)備對(duì)普通樣品進(jìn)行常規(guī)分析的負(fù)擔(dān)。無(wú)論是操作過(guò)電鏡的人員還是未操作過(guò)電鏡的人員，無(wú)需過(guò)多培訓(xùn)即可快速上手，得到高質(zhì)量的成像結(jié)果。

02

設(shè)備特點(diǎn)

Phenom Pro

 高端臺(tái)式電鏡，提供高質(zhì)量掃描電鏡圖像

      定制的探測(cè)器、高亮度的燈絲和先進(jìn)的彩色導(dǎo)航相機(jī)使第六代Phenom Pro 臺(tái)式掃描電鏡填補(bǔ)了光學(xué)顯微鏡和落地式掃描電鏡分析之間的空白，使設(shè)備具有突破性，提高了設(shè)備的生產(chǎn)率。

BSD & SED 混合像

標(biāo)配 BSD 圖像，選配 SED 圖像

      Phenom Pro 后期可升級(jí)為同時(shí)具備顯微圖像和元素成分分析的電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX。Phenom Pro 可選配所有的樣品杯選件和所有拓展功能軟件選件。并且第六代Phenom Pro 可以提供實(shí)時(shí)的背散射和二次電子混合圖像。

      此外，第六代 Phenom Pro 為 Pro Suite 軟件套裝和豐富的樣品杯選件提供了良好的平臺(tái)。與之前的產(chǎn)品相比，第六代 Phenom Pro 臺(tái)式掃描電鏡將分辨率提高 20%，同時(shí)帶來(lái)了更好的用戶體驗(yàn)。在檢測(cè)時(shí)可以進(jìn)行更廣泛的應(yīng)用，包括對(duì)電子束敏感的樣品。 

Phenom 24" HD 全屏幕圖像設(shè)計(jì)

最高放大倍數(shù)可達(dá) 350,000x

      第六代Phenom Pro的加速電壓為 5-20kV 連續(xù)可調(diào).同時(shí)，Phenom Pro可以設(shè)置更低的束流。為了支持多種應(yīng)用，可選配不同的樣品杯：降低荷電效應(yīng)樣品杯、金相樣品杯、自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)樣品杯、微電子器件插件和微型工具樣品杯。升級(jí)的加速電壓和束流設(shè)置使得整個(gè)系統(tǒng)更加靈活。為更多樣品提供了更好的成像條件，可使用戶獲得更滿意的結(jié)果。

永不丟失導(dǎo)航

彩色光學(xué)導(dǎo)航，快速定位至目標(biāo)位置

      專業(yè)版 Phenom Pro 的導(dǎo)航相機(jī)提供的信息能夠幫助用戶把光學(xué)圖像和電鏡圖像對(duì)應(yīng)起來(lái)。用戶只需 10 分鐘的基礎(chǔ)培訓(xùn)即可親手拍出圖片來(lái)。豐富的樣品杯選件使得 Phenom Pro 可以適用于多種多樣不同類型的樣品。專利的樣品杯技術(shù)確保裝載樣品快速、簡(jiǎn)單。

       光學(xué)照相機(jī)、自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)結(jié)合人性化的操作界面可以幫助用戶快速定位到興趣位置。點(diǎn)擊導(dǎo)航圖像中的某個(gè)位置，全自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)即可將該位置移動(dòng)到視野中央。只需點(diǎn)擊對(duì)應(yīng)按鈕，即可實(shí)現(xiàn)從光學(xué)模式到電鏡模式的快速切換。裝載樣品后，30秒即可獲得電鏡模式下的圖像。存儲(chǔ)圖像方便，可以存儲(chǔ)于 U盤(pán)或者網(wǎng)絡(luò)，用于離線分析和圖片發(fā)送。

03

設(shè)備檢測(cè)應(yīng)用  

飛納電鏡 ProSuite

飛納電鏡 ProSuite 是一個(gè)可選的軟件包，它可以更加豐富飛納電鏡的功能?；陲w納電鏡獲得的圖像，ProSuite 可以盡可能地從其中提取大量信息，為特定的應(yīng)用需求提供多方面的解決方案。ProSuite 標(biāo)配軟件有自動(dòng)全景拼圖和遠(yuǎn)程協(xié)助。選配軟件有纖維統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)，顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)孔徑統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)以及 3D 粗糙度重建系統(tǒng)。實(shí)際上，樣品的大部分屬性、特征都可以通過(guò)飛納電鏡結(jié)合 ProSuite 軟件包揭示出來(lái)。

二次電子探測(cè)器

      Phenom Pro 可以選配二次電子探測(cè)器(SED)，SED 從樣品的表層收集低能量電子。因此，它是分析樣品表面信息的最佳選擇。SED 可以很好地應(yīng)用于表面和形態(tài)分析。在研究微觀結(jié)構(gòu)、納米結(jié)構(gòu)或顆粒時(shí)，這就很有意義。并且，第六代Phenom Pro 可以提供實(shí)時(shí)的背散射和二次電子混合圖像，將成分和形態(tài)數(shù)據(jù)連接起來(lái)。